詳細(xì)介紹
產(chǎn)品介紹
該系統(tǒng)采用單色激光準(zhǔn)直光束和線陣CCD成像技術(shù)，通過對樣品標(biāo)記特征識別與跟蹤，實(shí)現(xiàn)位移或變形量的非接觸、高速度、高精度檢測。測量數(shù)據(jù)由計算機(jī)接口進(jìn)行采集與處理，實(shí)時顯示被測試樣標(biāo)距變形。
該系統(tǒng)用于高溫（大氣、真空、惰性氣體保護(hù)環(huán)境下）力學(xué)試驗系統(tǒng)上，可測量200℃～3000℃范圍內(nèi)的材料變形。
系統(tǒng)組成：由激光測量頭、主控制器、計算機(jī)等部分組成
硬件簡介：激光測量頭主要由線形激光發(fā)射系統(tǒng)和線陣CCD接收系統(tǒng)兩部分；主控制器主要由CCD驅(qū)動單元、計算控制單元、顯示與輸入管理單元、接口單元等組成。根據(jù)測量目標(biāo)溫度范圍不同，需要配套窄帶濾光系統(tǒng)，消除測量對象產(chǎn)生雜光對測量系統(tǒng)影響。
軟件簡介：采用VC++或LabVIEW編程軟件設(shè)計完成計算機(jī)控制與數(shù)據(jù)處理軟件。主要進(jìn)行變形數(shù)據(jù)采集、處理、結(jié)果與曲線顯示、數(shù)據(jù)存貯及輸出表格等。（顯示內(nèi)容可根據(jù)用戶需要設(shè)計）
主要技術(shù)參數(shù)
測量范圍：≤50mm
測量精度：±0.001mm
采樣速度：1000次/s
關(guān)鍵詞:
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